第一原理計算による 非接触型AFM像のシミュレーション

量子物理学・ナノサイエンス第174回セミナー

概要

原子間力顕微鏡（AFM）は物質表面の詳細な構造を測定する有用な手法の一つである。AFMは約30年前に開発されたものであるが、近年、一般に用いられている金属探針の先に一酸化炭素分子を付加することでその分解能が劇的に改善されることがわかり、注目されている。本講演では非接触型AFMで観測されるコントラストの反転、探針の種別や基板の有無がAFM像に及ぼす影響といった話題に関して、第一原理計算による理論的シミュレーションの結果を紹介する。また、シミュレーションにかかる計算コストの削減手法にも触れる。

• 量子物理学・ナノサイエンス第174回セミナー

• ナノサイエンス・量子物理学国際研究センター 主催
• 東京工業大学理学院・物理学系、「ナノサイエンスを拓く量子物理学拠点」共催