イベントカレンダー
- 日程
- 2025年1月10日（金）
- 時間
- 16:30～18:00 (JST)
- 場所
- 本館２階Ｈ２２４Ｂセミナー室（通常と場所が異なります）で対面、Zoomのハイブリッド形式で開催する予定です。
Zoom URLは https://sites.google.com/view/titech-geom-seminar/home にてお知らせします。
Venue: 224B Seminar Room (Main building of Ookayama campus, Tokyo Tech)/ Zoom (URL is announced on https://sites.google.com/view/titech-geom-seminar/home )
- 講師
- 齊藤 遼磨 氏（東京科学大学）
- Title：
- 複素多様体上の切断付きベクトル束における標準計量の構成
- Abstract
- コンパクト複素多様体上の正則ベクトル束に対して、標準計量が存在することと安定ベクトル束であることは同値であり、この定理は小林・Hitchin対応と呼ばれている。この対応の類似として、ベクトル束に付加構造を与えた場合の小林・Hitchin対応も知られている。特に、Bradlowはコンパクトケーラー多様体上の切断付きベクトル束に対して標準計量と安定性を定義し、上と同様の同値性を証明した。本講演では、この定理をケーラー多様体とは限らない場合に一般化する。具体的には、連続法 (Uhlenbeckと Yauによる)を用いたエルミート・アインシュタイン計量の構成方法を参考にして、コンパクト複素多様体上の切断付き安定ベクトル束における標準計量を構成する。 詳細は https://sites.google.com/view/titech-geom-seminar/home を参照してください。
更新日：2025.01.07
